지멘스, 실리콘 수명주기 전반 지원하는 ‘테센트 인시스템 테스트’ 출시

지멘스 디지털 인더스트리 소프트웨어의 EDA 사업부는 차세대 집적 회로(IC)의 설계 단계에서 공정 결함을 체크하고 수명주기 전반의 안정성과 성능을 강화하는 ‘테센트 인시스템 테스트(Tessent™ In-System Test)’ 소프트웨어를 발표했다.

해당 솔루션은 노후화와 환경적 요인으로 발생할 수 있는 Silent Data Corruption/Errors (SDC/SDE) 문제를 해결하기 위해 설계됐다. 특히 지멘스의 테센트 스트리밍 스캔 네트워크(Tessent™ Streaming Scan Network) 소프트웨어와 함께 작동하도록 설계된 업계 최초의 인시스템 테스트 컨트롤러다. 이를 통해 제품의 수명주기 동안 시스템 내에서 결정론적 테스트 패턴을 임베디드 방식으로 적용할 수 있다.

앤커 굽타(Ankur Gupta) 지멘스 디지털 설계 생성 플랫폼 수석 부사장은 17일 배포자료를 통해 “테센트 인시스템 테스트는 실리콘 수명주기 관리에 혁신적 진전을 가져올 솔루션”이라며, “노후화와 환경적 요인이 설계에 미치는 영향을 해결해 고객에게 성능, 보안, 생산성 향상이라는 실질적인 혜택을 제공할 것”이라고 강조했다.

테센트 인시스템 테스트는 기존 테센트 미션모드(Tessent™ MissionMode)와 테센트 스트리밍 스캔 네트워크의 성공을 바탕으로 개발되었다. 이 기술은 테센트 테스트컴프레스(TestKompress™) 소프트웨어로 생성된 결정론적 테스트 패턴을 원활하게 통합하며, IJTAG 및 SSN 기반 패턴의 재사용이 가능해 시스템 내 애플리케이션의 테스트 시간 단축과 칩 구조 개선을 지원한다.

APB 또는 AXI 버스 인터페이스를 통해 임베디드 결정론적 테스트 패턴을 인시스템 테스트 컨트롤러에 직접 적용할 수 있다. 시스템 내 테스트는 디바이스 수명주기 동안 테스트 내용을 동적으로 변경할 수 있으며, 기존 테스트 인프라의 재사용도 가능하다. 특히 자동차, 항공우주, 의료기기 등 안전과 신뢰성이 중요한 산업에서 높은 효율성을 제공한다.

AWS의 수석 DFT 매니저 댄 트록(Dan Trock)은 “테센트 인시스템 테스트는 기존 테스트 인프라와 패턴을 데이터 센터 제품군에 재활용할 수 있도록 지원한다”며, “이를 통해 고품질 필드 테스트가 가능해졌다”라고 말했다.